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  公司介紹
 
AFM Probes. AFM, Atomic Force Microscope, probes or tips are designed to fit into most commercially available AFMs and outperform all other silicon SPM, Scanning Probe Microscope, probes used in surface analysis
 相關產品
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  公司基本資料
公司名稱:  Quality AFM Cantilevers - tipsnano.com
連絡:  聯絡我們
網址:  ********
電話:  372-588-66111
傳真: 
國家:  愛沙尼亞(波羅的海)
住址:  Kristiina 15-214
  產品櫥窗
1. AFM Probes, AFM Tips, AFM Cantilevers, TipsNano AFM Probes
2. Highly Oriented Pyrolytic Graphite (HOPG)
3. Modular Research AFM Corvus
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